產(chǎn)品詳情
簡單介紹:
Olympus多功能45MG超聲測厚儀,能夠與**Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容,是一款集**解決方案于一機的**型儀器,只需幾次按鍵,即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能*測厚儀的華麗變身,可用于幾乎**測厚應用。
Olympus多功能45MG超聲測厚儀
詳情介紹:
Olympus多功能45MG超聲測厚儀,能夠與**Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容,是一款集**解決方案于一機的**型儀器,只需幾次按鍵,即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能*測厚儀的華麗變身,可用于幾乎**測厚應用。
新款超聲波測厚儀,奧林巴斯原裝進口,Olympus多功能45MG超聲測厚儀可以進行普通厚度檢測,涂層穿透厚度檢測,各種金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷**度檢測,統(tǒng)統(tǒng)不是問題。帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描,用戶使用這個可選實時A掃描模式,可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形.是不是測試更加一目了然?
Olympus多功能45MG超聲測厚儀使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此,要得到金屬的厚度,無需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。
一款同時具有涂層測厚儀功能的超聲波測厚儀,Olympus多功能45MG超聲測厚儀結合多種檢測手段,珠海天創(chuàng)儀器現(xiàn)貨*銷售。如果您對這款儀器感興趣,歡迎來電咨詢索取相關資料以及價格信息。Olympus多功能45MG超聲測厚儀廣東代理。
Olympus多功能45MG超聲測厚儀技術參數(shù)
測量 | 雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后的*延遲到*個回波之間的時間間隔。 |
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自動回波到回波(可選) | 在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔,不計漆層或涂層的厚度。 | |
穿透涂層測量 (可選) | 利用單個底面回波,測量金屬的實際厚度和涂層厚度(使用D7906-SM和D7906探頭) | |
單晶探頭測量模式(可選) |
模式1:激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。 模式2:延遲塊回波與*個底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊或水浸式探頭) 模式3:在激勵脈沖之后,位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊探頭或水浸式探頭)。 |
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厚度范圍 | 0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定(要測量*全的范圍需要使用單晶選項) | |
材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs) | |
分辨率(可選擇) |
低分辨率:0.1毫米(0.01英寸) 標準分辨率:0.01毫米(0.001英寸) 單晶選項:0.001毫米(0.0001英寸) |
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探頭頻率范圍 | 標準:2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(單晶選項):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB) | |
一般規(guī)格 | 操作溫度范圍 | -10 °C~50 °C(14 °F~122 °F) |
鍵盤 | 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤,帶有觸感及聲音反饋 | |
機殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼,機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。 | |
外型尺寸(寬 x 高 x 厚) | 總體尺寸:91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm | |
重量 | 430.9克 | |
電源 | 3節(jié)AA電池/USB電源供應 | |
電池工作時間 |
3節(jié)AA堿性電池:20到21小時 3節(jié)AA鎳氫電池:22到23小時 3節(jié)AA鋰離子電池:35到36小時 |
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標準 | 設計符合EN15317標準 | |
顯示 | 彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示,顯示屏尺寸:54.61毫米 x 41.15毫米 |
檢波 | 全波、RF波、正半波、負半波(波形選項) | |
輸入/輸出 | USB | 2.0從接口 |
存儲卡 | *大容量:2 GB可插拔MicroSD存儲卡 | |
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器(可選) | 數(shù)據(jù)記錄器 | 45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調(diào)用、**及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。 |
容量 | 475000個厚度測量讀數(shù),或20000個帶厚度值的波形 | |
文件名稱和ID編碼 | 32位字符的文件名,20位字符的字母數(shù)字位碼 | |
文件結構 | 6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構 | |
報告 | 機載報告總結了數(shù)據(jù)統(tǒng)計和*小值/*大值 |